儀器名稱：超高分辨冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡

品牌:  日立

型號：SU9000II

產(chǎn)地：日本

儀器介紹：

一.儀器特點：

1. 內透鏡物鏡設計，像差小,可實現(xiàn)超高倍觀察（SE分辨率：0.4nm@30kV）,低電壓成像能力優(yōu)異（SE分辨率：1nm@1kV）；

2. 全場的冷場發(fā)射電子槍，具有Mild Flash技術;

3. 采用樣品桿進樣，快速更換樣品，高效穩(wěn)定；

4. STEM和EDS性能優(yōu)異，也可選配電子衍射和EELS。

二.主要用途：

兼具了掃描電鏡和部分透射電鏡的功能，主要應用在半導體、納米材料、催化劑等領域。